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| 产品特性：高品质 | 是否进口：否 | 产地：美国 |
| 加工定制：否 | 品牌：美国 Ophir-Spiricon | 型号：NanoScan 2 |
| 测量范围：/ | 测量精度：/ | 外形尺寸：/mm |
| 用途：/ |
扫描式光束分析是一种***的光斑测量技术，通过狭缝/ 小孔取样激光光束的一部分，将取样部分通过单点光电探测器测量强度，再通过扫描狭缝/ 小孔的位置，复原整个光斑的分布。
扫描式光束分析仪的优点：
? 取样尺度可以到微米量级，远小于CCD 像素，可获得较高的空间分辨率而无需放大；
? 采用单点探测器，适应紫外~ 中远红外宽范围波段；
? 单点探测器具备很高的动态范围，一个探头可同时适应弱光和强光分析。
扫描式光束分析仪的缺点：
? 多次扫描重构光束分布，不适合输出不稳定的激光；
? 不适合非典型分布的激光，近场光斑有热斑、有条纹等的状况。
扫描式光束分析仪与相机式光束分析仪是互补关系而非替代关系；在很多应用，如小光斑测量（焦点测量）、红外高分辨率光束分析等方面，扫描式光束分析仪具备独特的优势。
NanoScan 2s 系列狭缝扫描式光束分析仪， 源自2010 年加入OPHIR 集团的PHOTON INC。PHOTON INC 自1984 年开始研发生产扫描式光束分析仪，在光通讯、LD/LED 测试等领域享有盛名。扫描式与相机式光斑分析仪的互补联合使得OPHIR可提供完备的光束分析解决方案。
特点和功能：
? 可测量连续激光以及大于1KHz 重频的脉冲激光
? 取样间隔可以调节小到5.7nm，使其能够******地测量非常小的光斑，
? 可显示2D/3D 光斑形貌
? 扫描速度可调谐
? 16 位数字化信号采集，35dB 高动态范围，20Hz *刷新频率
? 支持用户进行二次开发，便于集成
? 探头可添加功率计选项
? 硅、锗和热释电探测器可选，测量范围可覆盖很宽的光谱范围和功率级别
? 不加衰减就可以测量较高功率或焦点处光斑
? 所有的NanoScan 的校准都可以朔源NIST 标准以确保*终的精度
? 符合******/DIN 11146 及***13694。（1989~1996 年，Photon 公司主持了***/DIN 委员会的工作，制订出了***/DIN11146 标准）
型号指标：
软件功能：
NanoScan 提供Standard 与Professional 两种功能版本：
